堿基切割序列掃描(base excision sequence scaning, BESS)是一種不通過測序而檢測和定位突變的新技術(shù)。它的基本技術(shù)路線是：用熒光或同位素標記的引物在有dUTP的條件下進行PCR擴增，選用適宜限制酶將PCR產(chǎn)物于dU位點處切斷，以高分辨PAGE膠分離并比較待檢和標準對照條帶，從而檢測和定位突變。BESS的一個反應就可篩查長達千個堿基的DVA序列，而且它對點突變、缺失、插入、倒位及框移動的檢測有效率大于90%。該技術(shù)以其突變檢測 效率高和覆蓋面廣而被推廣和應用。
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